扫描电子显微镜（SEM）使用聚焦电子束扫描样品，获得带有样品形貌和成分信息的图像。
蔡司CSEM（采用热电子源的传统SEM）和FE-SEM（带场发射电子源的场发射SEM）提供高分辨率成像和出色的材料衬度。
● 高分辨率表面敏感信息和材料衬度。
● 广泛应用于纳米技术、材料研究、生命科学、半导体、原材料和工业领域。
蔡司GeminiSEM
FE-SEM满足亚纳米成像、分析和样品灵活性的高要求
蔡司GeminiSEM可助您轻松实现亚纳米级分辨率的成像。出色的成像和分析技术更使FE-SEM（场发射扫描电子显微镜）如虎添翼。我们采用创新的电子光学系统和全新样品仓设计，不仅操作更加简便，用途更加灵活多样，还可为您带来更高的图像质量。无需水浸物镜即可拍摄低于1 kV的亚纳米级图像。探索蔡司Gemini电子光学系统的三种设计：
分析测试平台的理想选择——蔡司GeminiSEM 360
实现高效分析——蔡司GeminiSEM 460
表面成像的新标准——蔡司GeminiSEM 560
GeminiSEM 360
尽享表面敏感成像的优势并在低电压或高探针电流下实现信息收集。了解Inlens探测器、NanoVP、关联式成像查看或人工智能支持的图像分割优势。
GeminiSEM 460
可从低电流-低电压工作条件无缝切换到高电流-高电压工作条件。通过原位加热和拉伸实验室来拓展您的应用范围。充分发挥其各项优势，如共面式EDS/EBSD配置、EDS数据的无阴影面分布和快速收集4000点/秒的EBSD图。
GeminiSEM 560
探索表面成像新标准：Gemini 3镜筒搭载全新的电子光学引擎Smart Autopilot，使样品能够在低于1 kV、分辨率低于1 nm的条件下进行无漏磁成像，且无需样品台偏压或单色器，可在您的工作条件下达到理想效果。
材料科学中的应用
典型任务与应用
无论是在大面积区域内还是在亚纳米分辨率下，均可轻松对真实世界样品进行成像和分析。
探索来自纳米科学、工程和能源材料或仿生材料、聚合物和催化剂等领域的应用实例。
了解GeminiSEM如何帮助您全面表征样品。
工业用显微镜解决方案
典型任务与应用
力学、光学或电子组件的失效分析
断裂分析和金相研究
表面、微观结构和器件表征
成分和相分布
确定杂质和夹杂物
电子元件和半导体中的应用
典型任务与应用
构造分析和基准分析
被动电压衬度
亚表面分析
探针测量电学性能
TEM选址
生命科学中的应用
典型任务与应用
拓扑结构的表征
对敏感、非导电、除气或低衬度样品进行成像
细胞、组织等超微结构的高分辨率成像
进行超大面积成像，如连续切片或切面成像
