蔡司 Xradia 800 Ultra 超高分辨率无损三维成像系统

蔡司 Xradia 800 Ultra 超高分辨率无损三维成像系统

超高分辨率 CT 扫描 X 射线显微镜Xradia 800 Ultra

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总体描述

类同步辐射的实验室三维成像

拥有蔡司Xradia 800 Ultra X 射线显微镜,您可以实现低至50 nm 的空间分辨率,这是业界实验室X射线成像系统前沿的水平。由于无损 3D 成像在如今的突破性研究中有重要的作用,您将会体验到出众的优异性能和灵活性。创新的 Xradia Ultra 系列具有吸收衬度和相位衬度的功能,X射线能量为 8KeV,并使用独有的由同步辐射光学器件改造而来的附件。 Xradia 810 Ultra 在研究材料随时间的演变(4D)中,可实现出众的原位和4D性能,拓展了3D X射线成像技术在材料科学,生命科学,自然资源和各种工业应用领域的局限。


技术参数:

  • 无损三维 X 射线成像允许在直接微观结构观察下对同一样品进行重复成像
  • 在原位设备中样品成像保持低至 50nm 的高分辨率
  • 用于断层扫描重构的图像自动调整功能
  • 视野可在 15 至 60 μm 的范围内进行切换
  • 吸收衬度和 Zernike 相位衬度成像模式
  • 在实验室中开发、准备、测试你计划的同步实验,让有限的同步辐射时间更加有效率
  • 搭配 Scout-and-Scan 控制系统和基于工作流程的用户界面,尤其适合研究人员水平各不相同的中心实验室


特点:

Xradia 800 Ultra 的分辨率低至50 nm,使微观结构和进程可视化,这些是传统实验室 X 射线技术不能实现的。在 X 射线能量为8 KeV下运行,极佳的穿透力和衬度适合各种材料,使您可以观察自然状态下的结构和材料。

 

集成相位衬度技术的 Xradia 800 Ultra 运用 Zernike 方法在吸收衬度低时可增强晶界和材料交界处的可见度,使未染色的超结构和纳米结构可视化。

 

蔡司Xradia 800 Ultra 采用类似横切法的无损技术,提供可信赖的内部 3D 信息。大工作距离和空气样品环境使您可以轻松的进行原位研究。



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